光學(xué)軸測量|首放電子科技

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王子計測光學(xué)軸測量裝置PAM-PR300產(chǎn)品規(guī)格：

測定項目	偏光軸方位、配向角、位相差
測定對象	光學(xué)薄膜、偏光板
測定原理	旋轉(zhuǎn)光子法、平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、正交尼科爾旋轉(zhuǎn)法
測定時間	約4秒（偏光軸測定）
測定波長	590nm（可選450nm，630nm等）
樣品尺寸	30mm250mm,t=20mm以下
系統(tǒng)配置	測定裝置本體，光源裝置，電腦
儀器尺寸	W380 ×H390 ×D610 mm
儀器重量	27kg

王子計測光學(xué)軸測量裝置PAM-PR300測量原理和精度：

	偏光軸方位測定	位相差測定
測定方式	旋轉(zhuǎn)光子法	平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法
測定項目	吸收軸方位 透過軸方位	位相差值、配向角
構(gòu)成
角度分解能	0.001°	0.001°
角度精度（ 3σ）	0.006°	0.017°
位相差分解能	N/A	0.01nm
位相差精度（ 3σ）	N/A	0.03nm