EM TIC 3X離子束
EM TIC 3X是一種寬離子束銑削裝置，用于制備樣品橫截面以及平面樣品，用于掃描電子顯微鏡（SEM），光學顯微鏡（LM），顯微結構分析（EDS，WDS，Auger，EBSD）和 原子力顯微鏡（AFM）研究。 該儀器配備了三重離子束系統，可以在室溫或低溫下處理幾乎任何材料的大表面積。
EM TIC 3X被設置為模塊化系統，并可以靈活地配備用于各種應用的不同階段：
標準階段：準備各種尺寸，形狀和材料不同的樣品
冷卻臺：防止熱冷卻敏感樣品被過熱破壞
多個樣品臺：連續準備至少三個樣品，無需用戶干預，確保高水平的樣品通量。
旋轉臺：用于平面銑削或離子束拋光
發表于 2026-4-6 16:04:20