粉末衍射儀|束蘊儀器

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產品：布魯克D8達芬奇X射線衍射儀  
型號：D8Advance  
產地：德國  


布魯克AXS公司全新的D8ADVANCEX射線衍射儀粉末衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWISTTUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!  

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!  
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率,而且大幅提高了設備的探測靈敏度。


主要應用：
1、物相定性分析  
2、結晶度及非晶相含量分析  
3、結構精修及解析  
4、物相定量分析  
5、點陣參數精確測量  
6、無標樣定量分析  
7、微觀應變分析  
8、晶粒尺寸分析  
9、原位分析  
10、殘余應力  
11、低角度介孔材料測量  
12、織構及ODF分析  
13、薄膜掠入射  
14、薄膜反射率測量  
15、小角散射

技術指標:  
Theta/theta立式測角儀  
2Theta角度范圍:-110～168°  
角度精度:0.0001度  
Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管  
探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器  
儀器尺寸:1868x1300x1135mm  
重量:770kg  

TWIN / TWIN 光路
布魯克獲得專屬發明的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用，該系統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統無需人工干預，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換，且無需人工干預，是在環境下和非環境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

葫蘆娃救爺爺

有沒有防塵罩，不用時保護

昌控冶金

設備應用場景多樣，設計合理，能適配不同工業行業

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這款設備精度怎么樣？有沒有詳細參數可以分享一下？

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這家企業生產的設備很靠譜，品質常年有保障，省心之選。

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用途廣泛，設計科學，能滿足多種工業使用場景的需求。

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設計合理，核心特點突出，非常值得推薦選用，實力派。

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實用性強，設計科學，非常適合工業領域選用嘗試，推薦。