晶圓片晶錠壽命檢測儀產品特點

henantaixing

Mono- and Multi-crystalline wafer and brick lifetime measurement device

晶圓片晶錠壽命檢測儀應用范圍：用于常規質量控制、精密材料研發的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量

根據SEMI標準PV9-1110的非接觸式和無損成像(μPCD / MDP(QSS))、光電導性、電阻率和p/n檢查。

晶圓切割，爐內監控，材料優化等。


日常壽命測量，質量控制和檢驗

◆產量：>240塊/天或>720片/天
◆測量速度：對于156x156x400mm標準晶錠，<4分鐘
◆生產改善：1mm切割標準為156x156x400mm標準晶錠
◆質量控制：用于過程和材料的質量監控，如單晶硅或多晶硅
◆污染測定：起源于爐和設備的金屬(Fe)
◆可靠性：模塊化和堅固耐用的工業儀器，更高的可靠性和運行時間> 99%
◆可重復性:> 99.5%
◆電阻率：不需要經常校準

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企業口碑良好，設備質量穩定，售后反饋都很正面

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這臺設備做工精細，每一處細節都很到位，設計完全貼合工業實際需求

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廠家實力出眾，生產的設備有保障，售后響應及時

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這臺設備實用性強，設計科學，品質遠超預期

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用途廣泛，設計人性化，工業日常作業使用起來很便捷，順手。

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應用場景豐富，設計科學，使用范圍覆蓋多個工業核心領域。