zeta電位及粒度分析儀

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Zeta 電位及粒度分析儀是一種用于精確測量顆粒粒度和 Zeta 電位的分析儀器。
在粒度測量方面，不同型號的儀器測量范圍有所差異，一般可涵蓋從亞納米級到微米級，如 0.3nm - 100μm 等。它能夠準(zhǔn)確分析出樣品中顆粒的大小分布情況，為研究顆粒體系的物理性質(zhì)提供重要數(shù)據(jù)。
在 Zeta 電位測量上，該儀器也表現(xiàn)出色，電位范圍通?？蛇_(dá)到－500mV～500mV。通過測量 Zeta 電位，可以了解顆粒表面的電荷性質(zhì)和電荷密度，進(jìn)而判斷顆粒之間的相互作用和體系的穩(wěn)定性。
儀器采用多種先進(jìn)技術(shù)，如動態(tài)光散射、相位分析光散射等，來實現(xiàn)高精度的測量。并且具備良好的溫度控制功能，精度可達(dá) ±0.1℃，能在不同溫度條件下進(jìn)行穩(wěn)定測量。此外，部分儀器還配備自動稀釋、自動進(jìn)樣等模塊，減少人工操作誤差，提高檢測效率和準(zhǔn)確性。

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