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標題: 光學軸測量|首放電子科技 [打印本頁]
作者: henantaixing    時間: 4 天前
標題: 光學軸測量|首放電子科技
王子計測光學軸測量裝置PAM-PR300產品規格：
測定項目
偏光軸方位、配向角、位相差
測定對象
光學薄膜、偏光板
測定原理
旋轉光子法、平行尼科爾旋轉法、正交尼科爾旋轉法
測定時間
約4秒（偏光軸測定）
測定波長
590nm（可選450nm，630nm等）
樣品尺寸
30mm250mm,t=20mm以下
系統配置
測定裝置本體，光源裝置，電腦
儀器尺寸
W380 ×H390 ×D610 mm
儀器重量
27kg

王子計測光學軸測量裝置PAM-PR300測量原理和精度：

偏光軸方位測定
位相差測定
測定方式
旋轉光子法
平行尼科爾旋轉法
測定項目
吸收軸方位
透過軸方位
位相差值、配向角
構成


角度分解能
0.001°
0.001°
角度精度（ 3σ）
0.006°
0.017°
位相差分解能
N/A
0.01nm
位相差精度（ 3σ）
N/A
0.03nm





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